ASTM F 1893-1998 测量半导体器件电离剂量率熔蚀的指南
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时间:2024-05-04 12:36:01
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【英文标准名称】:GuideforMeasurementofIonizingDose-RateBurnoutofSemiconductorDevices
【原文标准名称】:测量半导体器件电离剂量率熔蚀的指南
【标准号】:ASTMF1893-1998
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐久性;电离辐射;集成电路;故障;微型电路;高剂量率;熔蚀;密封;半导体器件
【英文主题词】:integratedcircuits;semiconductordevices;semiconductordevices;microelectronics;burnout;highdose-rate;latchup;survivability;failure;ionizingradiation;ionizingradiation;microcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:测量半导体器件电离剂量率熔蚀的指南
【标准号】:ASTMF1893-1998
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐久性;电离辐射;集成电路;故障;微型电路;高剂量率;熔蚀;密封;半导体器件
【英文主题词】:integratedcircuits;semiconductordevices;semiconductordevices;microelectronics;burnout;highdose-rate;latchup;survivability;failure;ionizingradiation;ionizingradiation;microcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
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